光照射時のフォトダイオードの電流電圧特性に関する一考察
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概要
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光を照射されたダイオードの電流電圧特性に関して理論的・実験的に検討した。その結果以下の様な推論が得られた。(1)適切に設計された通常のPINダイオードでは、これまでに広く用いられているモデル(ダイオードの暗状態の電流電圧静特性が電流軸に平行移動する)がよく適合する。(2)一般には、電流電圧特性(静特性)は時定数(半導体接合の時定数と光励起電子の寿命)によって表される項を含み、従って、接合の容量電圧特性が電流電圧特性の中に入って表現される。(3)空乏層の走行時間は、それが正方向バイアス電圧によって、光励起された電子の寿命と同程度に長くなると、電流電圧特性の一部を大きく変えてしまう。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-06-25
著者
-
赤池 正巳
東京理科大学工学部電気工学科
-
稲垣 恵三
ATR環境適応通信研究所
-
稲垣 恵三
Atr適応コミュニケーション研究所
-
梅沢 良夫
東京理科大学:(現)ntt移動通信網株式会社
-
赤池 正己
東京理科大学工学部電気工学科
-
赤池 正巳
東京理科大学工学部
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