光ディスク信号検出における非線形についての考察

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概要

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光ディスク検出信号において、これまで記録過程に生じる非線形成分が大きく、これを抑えるために記録制御による線形化の研究開発が行われてきた。しかし、高密度化にともない、これまで考慮されていなかった再生過程における、非線形成分が無視できなくなってきている。そこで、光ディスクの信号検出における非線形性の発生原因の解析をおこなう。検出モデルとしてスカラー回折を用い、単位マークの応答の重み合わせと検出信号の比較を行い、回折光の振幅を信号強度に変換する過程の相互績から発生することを明らかにする。さらに、マークエッジ記録において、単位マークを追加して長くなったマークからの信号と追加前のマークからの信号の差により追加単位マークの応答を求め、各マーク長、ギャップ長ごとにそれらの応答の比較を行い、非線形成分の大きさを求める。
社団法人電子情報通信学会の論文
2001-12-06

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