光周波数基準発生回路を用いた光素子の分散測定
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概要
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高精度な周波数掃引光を出力する光周波数基準発生回路を用いた高速な分散測定法を提案する.本手法は, 位相ダイバシティ回路を用いたロックイン検出の適用により, 光周波数基準発生回路の高い周波数分解能及び確度を有効に利用した測定が可能である.本稿では, 提案手法の原理について述べ, 本手法に固有な雑音について解析する.さらに, 本手法の有効性を確認する実験結果について述べる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2002-01-16
著者
-
武居 弘樹
Ntt物性基礎研
-
武居 弘樹
日本電信電話株式会社 Ntt物性科学基礎研究所
-
武居 弘樹
日本電信電話株式会社nttアクセスサービスシステム研究所
-
堀口 常雄
日本電信電話株式会社nttアクセスサービスシステム研究所
-
堀口 常雄
Nttアクセスサービスシステム研究所
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