SCM光伝送システムにおけるインサービス試験光の許容入力パワに関する検討
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概要
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副搬送波多重(SCM)光伝送システムにおいて, インサービス状態の光線路の試験を可能にするため, 試験光の光加入者線ネットワーク装置(ONU)への入射がSCM信号の伝送特性へ及ぼす影響について明らかにする. 具体的には, 試験光入射により信号帯域内に生ずる雑音特性を明らかにし, 試験光のONU入力パワと搬送波対雑音電力比との関係を示す理論式を導く. 本検討により, インサービス試験光の許容入力パワを明らかにすると共に, それを決める主パラメータの明確化を行う.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-06-23
著者
-
山本 文彦
Nttアクセスサービスシステム研究所
-
堀口 常雄
NTTアクセス網研究所
-
堀口 常雄
日本電信電話株式会社nttアクセスサービスシステム研究所
-
堀口 常雄
Nttアクセスサービスシステム研究所
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