誘導体化-電子線プローブマイクロアナリシスによるポリ塩化ビニル中の微量官能基の分布分析
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概要
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高分子材料中に存在する微量の官能基の分布をμmオーダーの位置分解能で測定できる新しい分析法の探索を行い, "誘導体化-電子線プローブマイクロアナリシス(EPMA)"が有効であることを見いだした.本法はEPMAに高感度な元素を有する反応試薬で官能基を誘導体化した後, この元素の分布をEPMAで測定することにより, 元の官能基の分布を得るものであり, 0.05%の検出感度と, 3μmの位置分解能が達成できることを確認した.本法をアミンで劣化させた塩化ビニル樹脂中のC=C基の分布測定に適用したところ, 顕微IR法で測定した分布とよく一致した.本法は顕微IR法に比べて検出感度が30倍, 位置分解能が4倍高く, 高分子材料の混合状態や劣化状態の解析に有効であることが示された.
- 社団法人日本分析化学会の論文
- 1996-03-05
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