銀蒸着/飛行時間型二次イオン質量分析法による固体表面でのシリコーンオイルの分子量評価
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概要
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固体表面に微量付着したシリコーンオイルの分子量と分子構造を直接評価する方法を検討し,銀蒸着/飛行時間型二次イオン質量(TOF-SIMS)法が有効であることを見いだした.固体試料の表面に銀を蒸着し蒸着面をTOF-SIMS分析したところ,銀によるイオン化が起き,通常のTOF-SIMS分析では生成しない質量数数千の銀を含む擬似分子イオンが検出できた.銀蒸着法として二極スパッタ法と真空蒸着法の2種類を検討し,二極スパッタ法を用いた場合は試料の冷却が必要であったが,真空蒸着法を用いた場合は室温での蒸着によっても擬似分子イオン群を検出できた.本法により,固体表面に極微量付着したシリコーンオイルの構造(狽l鎖,末端基)と分子量及びその面分布の評価が可能となった.本法を塗膜はじきの原因調査に適用したところ,原因となったシリコーンオイルの判別ができ,実用性が確認できた.また,シリコーンオイルだけでなくオイル添加剤,鉱油など幅広く応用可能であることも確認した.
- 社団法人日本分析化学会の論文
- 2003-11-05
著者
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村瀬 篤
(株)豊田中央研究所
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村瀬 篤
株式会社豊田中央研究所
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井上 雅枝
株式会社豊田中央研究所
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杉浦 元保
株式会社豊田中央研究所
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杉浦 元保
豊田中研
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井上 雅枝
(株)豊田中央研究所
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井上 雅枝
豊田中研
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