顕微赤外分光法による薄膜測定時の干渉縞除去
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概要
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A simple method was propcsed for removal of interference fringes in an IR spectrum. The method was particularly effective for microscopic measurements. The films of polyethylene, approximately 15μm in thickness, were prepared by pressing the films (30 μm in thickness) at 190℃ for 3 min using an Al-foil with rough surface as a spacer. When the roughness of the polyethylene film surface was below 0.1μm, interference fringes appeared in the microtransmission infrared spectrum. However, when the roughness of the polyethylene film surface was 0.6 to 1.7μm, interference fringes were able to be removed. This technique was applied to qualitative analysis of contaminant in a polyethylene film.
- 社団法人日本分析化学会の論文
- 1991-07-05
著者
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寺前 紀夫
名古屋大学高温エネルギー変換研究センター
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寺前 紀夫
名古屋大学工学部応用化学科
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西岡 利勝
出光石油化学(株)樹脂研究所
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西岡 利勝
出光石油化学樹脂研究所
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西岡 利勝
出光石油化学 樹脂研
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