両面除去・両面X線照射法による中空円筒の残留応力測定
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概要
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内面または外面から逐次薄層除去を行い,両面X線照射による中空円筒の軸対称3主成分残留応力を測定する方法については,すでに発表した.本論文は平板の場合について発表したと同様,内外両面から等量ずつ薄層除去し,両面にX線照射法を適用して得られる両表面応力測定値を用いて内外面からの残留応力分布を同時に計算する測定理論式を提唱するもので,適用例として熱処理した中空鋼管の残留応力分布を測定した.
- 社団法人日本機械学会の論文
- 1983-05-25
著者
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