23aSG-13 La_<2-x>Ba_xCuO_yMBE薄膜の物性測定II

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2000-09-10

著者

• 山本 秀樹

  Ntt物性基礎研

• 内藤 方夫

  農工大

• 内藤 方夫

  Ntt物性基礎研

• 佐藤 寿志

  NTT物性科学基礎研究所

• 佐藤 寿志

  Ntt物性基礎研

• 内藤 方夫

  東京農工大

• 束田 昭雄

  東理大理

• 内藤 方夫

  東理大理

• 東田 昭雄

  東理大理

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