25aZG-3 La_<2-x>Ba_xCuO_<4+y>MBE薄膜の物性測定
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2000-03-10
著者
-
松田 梓
Ntt基研
-
内藤 方夫
農工大
-
内藤 方夫
Ntt物性基礎研
-
佐藤 寿志
NTT物性科学基礎研究所
-
佐藤 寿志
Ntt物性基礎研
-
束田 昭雄
東理大理
-
松田 梓
東理大理
-
東田 昭雄
東理大理
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