28p-C-6 フォトリフレクタンス法による歪量子井戸の歪評価
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1991-09-12
著者
-
渡辺 賢司
沖電気工業(株)半導体技術研究所
-
高森 毅
沖電気工業株式会社研究開発本部半導体技術研究所
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上條 健
新情報処理開発機構光インタコネクション沖研究室
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福永 敏明
沖電気工業(株)半導体技術研究所
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高森 毅
沖電気半技研
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渡辺 賢司
沖電気半技研
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福永 敏明
沖電気半技研
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上條 健
沖電気半技研
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