H.Kressel偏, Characterization of Epitaxial Semiconductor Films, Elsevier, Amsterdam and Oxford, 1976, xii+216ページ, 25×17cm, 11,550円(Methods and Phenomena, their Applications in Science and Technology, Vol.2).

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1977-03-05

著者

• 高橋 清

  東工大工

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• H.Kressel偏, Characterization of Epitaxial Semiconductor Films, Elsevier, Amsterdam and Oxford, 1976, xii+216ページ, 25×17cm, 11,550円(Methods and Phenomena, their Applications in Science and Technology, Vol.2).
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