STM/STSによる超伝導ギャップの異方性の観測 : 電子トンネルプロセスの微視的考察

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1995-09-12

著者

• 玉作 賢治

  理研

• 佐藤 正俊

  名大理

• 玉作 賢治

  理化学研究所播磨研究所

• 内田 慎一

  東大工

• 玉作 賢治

  東大工

• 田中 秀吉

  佐賀大理工

• 上田 英二

  CREST

• 上田 英二

  名大理

• 田中 秀吉

  名大理

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