Extended X-Ray Absorption Fine Structure (EXAFS) in X-ray Fluorescence Spectra
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概要
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Aluminum K-LL radiative Auger X-ray fluorescence spectra of AIPO4 and A1303 powders aremeasured using an X-ray fluorescence spectrometer for elemental analysis. We demonstrate thatthe Fourier transforrn of the oscillation in the radiative Auger spectra has inf'ormation similar tothat of the extended X-ray absorption fine structure (EXAFS). The Al -O distances in AlPO4and A1303 are deterznined by the radiative Auger X-ray fluorescence spectra, The accuracy ofthe Al -O bond length is within 0.03 A.
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1997-11-15
著者
-
KAWAI Jun
Department of Materials Science and Engineering, Kyoto University
-
AWAKURA Yasuhiro
Department of Materials Science and Engineering, Kyoto University
-
粟倉 泰弘
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
-
Kawai Jun
Department Of Cardiovascular Surgery Kinki University School Of Medicine
-
Hayashi Kouichi
Department Of Materials Science And Engineering Kyoto University
-
林 好一
京都大学大学院工学研究科
-
Hayashi Kouichi
Department Of Materials Science And Engineering Koyto University
-
Hayashi K
Photodynamics Research Center Riken (institute Of Physical And Chemical Research)
-
Awakura Yasuhiro
Department Of Materials Science And Engineering Kyoto University
-
Kawai Jun
Department of Materials Science and Engineering,Kyoto University
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