Delphiによる半導体中の電子輸送特性解析システム
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概要
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Profound application of electronic devices has been supported by precise analyses of the electron transport properties in the semiconductors. As more precise analyses are required, more detail materials data and more strictly selected parameters need to be prepared. Under these situations, a system to analyze the electron transport properties is proposed, which can easily deal with various kinds of semiconductor materials and combine many kinds of parameters through graphical user interface designed on the basis of visual and object-oriented programming in Delphi. It has been clarified that the results obtained from the system produce useful and hopeful information to design new semiconductor materials.
- 近畿大学の論文
- 1999-03-01
著者
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