<研究報告>光学モデルを用いた2次電子放出のモンテカルロシミュレーション
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概要
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Target atomic number, A, dependence of secondary elctron yield using an optical model is simulated appllying a Monte Carlo simulation code for 17 species of metals bombarded by electrons. The cross-section for the elastic collision of an electron with an atom in the solid is calculated using the partial were expansion technique, whereas the cross-section for the inelastic collision or for the electron excitation is calculated from Ashley's optical-data model. The simulatd secondary yield curve for primary electron beam 100eV to 10keV is consistent with the recent findings based on experiments and the Kollath's empirical formula. With increasing Z, the secondary yield slightly increases while showing a periodic structure.
- 沼津工業高等専門学校の論文
- 2003-01-31
著者
-
大宅 薫
徳島大ソシオテクノサイエンス
-
大宅 薫
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
-
西村 賢治
沼津工業高等専門学校電気電子工学科
-
大宅 薫
徳島大学
-
大宅 薫
徳島大工
-
大宅 薫
徳島大学工学部電気電子工学科
-
大宅 薫
徳島大学工学部
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