カーボンナノファイバの走査プローブ顕微鏡探針への応用
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2012-10-15
著者
-
北澤 正志
オリンパス(株)精密技術開発本部MEMS開発部
-
種村 眞幸
名古屋工業大学都市循環システム工学科
-
太田 亮
オリンパス(株)・mems開発本部
-
太田 亮
オリンパス(株)精密技術開発本部
-
因幡 和久
名古屋工業大学 大学院
-
北澤 正志
オリンパス(株)精密技術開発本部
-
種村 眞幸
名古屋工業大学 大学院工学研究科 未来材料創成工学専攻
-
種村 眞幸
名古屋工業大学
関連論文
- 計測機器を支えるMEMSデバイス--光スキャナと各種先進カンチレバー (特集 MEMS製品開発を支える精密工学)
- 2Cp09 ダイヤモンドナノ針を用いた細胞への遺伝子導入(動物細胞工学・動物組織培養,一般講演)
- 2/3インチ200万画素CMDイメージセンサ : 固体撮像関連 : 情報入力 : コンシューマエレクトロニクス
- 8)1インチ200万画素CMDイメージセンサ(〔情報入力研究会コンシューマエレクトロニクス研究会〕合同)
- 1インチ200万画素CMDイメージセンサ : 情報入力,コンシューマエレクトロニクス
- 科学解説 ダイヤモンドナノ針--ナノ細胞マッピングに向けた取組み
- 2-6 7μm画素CMDイメージャ
- 3-5 LOCOS構造CMDイメージセンサー
- 2-12 デバイスシミュレーターTRINEによるCDM動作解析
- 2-11 31万画素CMDイメージャ
- 16)CMDの高速駆動化検討(〔テレビジョン電子装置研究会 画像表示研究会〕合同)
- 4-4 10μm画素CMDイメージャ
- 電位分布測定用導電性AFM探針と有機半導体間の接触抵抗評価(材料デバイスサマーミーティング)
- 機器内部作業試作システムの研究
- 電位分布測定用導電性AFM探針と有機半導体間の接触抵抗評価(材料デバイスサマーミーティング)
- 電位分布測定用導電性AFM探針と有機半導体間の接触抵抗評価(材料デバイスサマーミーティング)
- 計測機器を支えるMEMSデバイス : —光スキャナと各種先進カンチレバー—
- 光MEMSの設計・製造技術 (特集:ナノテクノロジーにおけるMEMSとその応用)
- 2A1-62-078 力制御を付加したマイクロマニピュレーション実験
- HfN薄膜からのスパッタイオンの放出角度分布測定
- X 線光電子分光法の深さ方向分析における Au/Cr/SiO_2 界面での帯電現象の研究
- オリンパス光学工業(株) 基礎技術研究所
- 27aWP-9 チタニア薄膜の光学バンド・ギャップアプイニシオ計算(表面界面電子物性(半導体・無機))(領域9)
- パルスレーザー堆積法による紫外光学素子用フッ化物薄膜の製作
- カーボンナノファイバの走査プローブ顕微鏡探針への応用
- 電位分布測定用導電性AFM探針と有機半導体間の接触抵抗評価
- 電位分布測定用導電性AFM探針と有機半導体間の接触抵抗評価
- 電位分布測定用導電性AFM探針と有機半導体間の接触抵抗評価
- C-13-10 ポリエチレングリコールによるポリマー太陽電池の界面制御(C-13.有機エレクトロニクス,一般セッション)