静電気試験器の内蔵インダクタが引き起こす放電電流立ち上がりの波形歪み
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概要
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- 2012-05-01
著者
-
藤原 修
名古屋工業大学大学院
-
山中 幸雄
独立行政法人 情報通信研究機構
-
藤原 修
名古屋工大
-
戸谷 史彦
名古屋工業大学大学院
-
山中 幸雄
(独)情報通信研究機構
-
藤原 修
名古屋工業大学大学院情報工学専攻
-
藤原 修
名古屋工業大学 大学院工学研究科
-
山中 幸夫
郵政省通信総合研究所
-
藤原 修
名古屋工業大学工学部
-
藤原 修
名古屋工業大学
-
石上 忍
独立行政法人・情報通信研究機構
-
石上 忍
独立行政法人情報通信研究機構電磁波計測研究所電磁波環境研究室
-
戸谷 史彦
名古屋工業大学大学院情報工学専攻
-
山中 幸雄
(独) 情報通信研究機構
-
石上 忍
(独) 情報通信研究機構
-
戸谷 史彦
名古屋工業大学
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