相変化記録材料GeTe-Sb_2Te_3擬二元系化合物の結晶構造
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
Crystal structures of the phase-change recording material, GeTe-Sb2Te3, pseudo-binary compounds have been investigated over a decade using synchrotron radiation and the large Debye-Scherrer camera installed at SPring-8’s BL02B2 beamline. These compounds can be crystallized into metastable single phase with NaCl-type structure, for instance, by instantaneous laser irradiation; however, they are transformed into stable phases with long period trigonal structures characterized by the chemical formula, (GeTe)n(Sb2Te3)m</i (n, m; integer) after sufficient heat treatments. These stable phases can be described as structure with cubic close-packing periodicity (…ABCABC…) where the stacking rules of the Ge/Sb and Te layers are different from each other.
- 日本結晶学会の論文
- 2009-10-30
著者
-
松永 利之
パナソニック(株)
-
山田 昇
パナソニック(株)
-
松永 利之
松下テクノリサーチ
-
久保田 佳基
大阪府立大学
-
山田 昇
独立行政法人科学技術振興機構crest
-
木舩 弘一
大阪府立大学
-
山田 昇
松下電器産業(株)メディア制御システム開発センター
-
山田 昇
松下電器産業
関連論文
- 28pRE-3 反応現象のX線ピンポイント構造計測II : DVD材料の高速相変化の観測(28pRE 領域10,領域5合同 X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 30pYK-2 アモルファスGe_2Sb_2Te_5の構造(30pYK 液体金属,領域6(金属,超低温,超伝導・密度波))
- 23pPSB-60 時間分解X線回折装置を用いたピンポイント構造計測(領域5ポスターセッション,領域5,光物性)
- 21aXK-2 ピンポイント構造計測によるDVD記録材料の時分割構造評価(結晶成長,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 21pYK-14 XRD、EXAFSデータを用いたRMC解析によるa-Ge_2Sb_2Te_5の構造モデル(液体金属(カルコゲン系),領域6(金属,超低温,超伝導・密度波))
- 30pYK-1 (GeTe)_(Sb_2Te_3)_x相変化メモリ-材料の硬X線光電子分光(30pYK 液体金属,領域6(金属,超低温,超伝導・密度波))
- Te-O-Pd記録材料を用いた高速・多層・高信頼性のBD-Rメディア(映像情報機器及び一般)
- 反応現象のX線ピンポイント構造計測 : DVD材料の光記録現象をSPring-8で見る
- Te-O-Pd系記録材料を用いた高倍速追記型2層 Blu-ray Disc の開発
- Te-O-Pd系記録材料を用いた高倍速追記型2層Blu-ray Disc の開発(光記録技術,一般)