赤外線ハイブリッド応力解析法における試験片板厚と繰返し周波数の影響

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概要

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• 日本実験力学会の論文
• 2007-09-25

著者

• 町田 賢司

  東京理大

• 町田 賢司

  東京理科大学

• 宮川 正平

  富士ゼロックス(株)

• 宮川 正平

  東京理科大学大学院

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