TEMによる最近の結晶方位解析手法
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
- Premix-PICT 拡散法で作製したMgB_2超伝導バルク体の臨界電流特性に及ぼす微細組織の影響
- V添加10Crフェライト鋼におけるラス境界析出物の3D電子線トモグラフィー観察
- 企画にあたって
- W03(2) 超微細粒金属材料の粒界原子構造と力学的性質(【W03】超強加工による超微細粒金属の組織と強度)
- AIC法による低温多結晶シリコン薄膜形成挙動の微細構造解析(TFTの材料・デバイス技術・応用及び一般)
- アルミニウム誘起結晶化法による多結晶シリコン薄膜形成挙動のその場加熱観察
- アルミニウム誘起結晶化法による多結晶シリコン形成過程のその場加熱観察
- AIC法により作製された多結晶シリコン薄膜形成過程(薄膜(Si,化合物,有機)機能デバイス・材料・評価技術)
- 次世代ひずみSi-SGOIウエーハの微細組織観察
- MgB_2多結晶バルク体の力学特性