光学式変位計と赤外線水分計を用いる粉粒体粒径および水分インライン測定法
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概要
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光学式変位計と赤外線水分計を用いる塩製品粒径および水分のインライン測定法について検討した．本測定法を製塩工程の平均粒径400〜1,000μm，水分0.9〜1.6%の塩製品測定に適用した結果，平均予測誤差は平均粒径については31μm，水分については0.045%と良好なインライン予測が実現できた．このため，本測定法は粉粒体工業の工程管理に適用可能であることが示唆された．
- 社団法人 化学工学会の論文
- 2002-05-20
著者
-
吉川 直人
(財)塩事業センター海水総合研究所
-
山田 文彦
ダイヤソルト(株)崎戸工場
-
松本 幹冶
横浜国立大学
-
眞壁 優美
(財)塩事業センター・海水総研
-
松本 幹治
横浜国立大学大学院工学研究院
-
松本 幹治
横浜国大 工
-
松本 幹治
横浜国大
-
山田 文彦
ダイヤソルト株式会社
-
山田 文彦
ダイヤソルト 崎戸工場
-
小川 襲
ダイヤソルト(株)崎戸工場
-
吉川 直人
(財)塩事業センター・海水総研
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