表面固有抵抗測定と二次イオン質量分析法によるポリプロピレン中の帯電防止剤の状態解析
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 日本表面科学会の論文
- 1997-06-10
著者
-
後藤 伸也
花王(株)化学品研究所
-
岡本 昌幸
花王(株)構造解析センター
-
儘田 明
花王(株)素材研究所
-
内藤 宏一
花王(株)化学品研究所
-
若狭 正信
花王(株)素材研究所
-
脇阪 達司
花王(株)素材研究所
-
脇阪 達司
花王(株)素材・プロセス研究所
-
若狭 正信
花王(株)構造解析センター
関連論文
- 界面活性剤による帯電抑制
- 表面固有抵抗測定と二次イオン質量分析法によるポリプロピレン中の帯電防止剤の状態解析
- 単色化X線源を用いるエネルギー分散型蛍光X線による微量リン,硫黄,塩素,臭素及びヨウ素の迅速定量
- 単色化X線源を用いたエネルギー分散型蛍光X線による重金属限度試験法の迅速分析
- 単色化X線源を用いたエネルギー分散型蛍光X線によるヒ素限度試験法の迅速分析
- 有機物マトリックス中の微量元素の直接定量を目的とした単色化X線源を用いるエネルギー分散型蛍光X線装置の開発
- 流動電位検出/イオン会合滴定法による陽イオン界面活性剤の迅速定量
- 流動電位検出/イオン会合滴定法による陰イオン界面活性剤の迅速定量
- 光度滴定法による水溶液でのイオン性界面活性剤の自動定量
- 微分光度滴定法による水溶液での陰イオン界面活性剤の定量
- 選択的化学修飾/X線光電子分光法による高分子表面官能基解析
- 単色化×線源を用いるエネルギー分散型蛍光×線装置の開発