脇阪 達司 | 花王(株)素材・プロセス研究所
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概要
関連著者
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脇阪 達司
花王(株)素材・プロセス研究所
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脇阪 達司
花王(株)素材研究所
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森田 尚喜
花王(株)素材・プロセス研究所
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石原 進介
京都電子工業(株)九州研究所
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本水 昌二
岡山大学理学部
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中原 武利
大阪府立大学工学部
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若狭 正信
花王(株)素材研究所
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中原 武利
大阪府立大学
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若狭 正信
花王(株)構造解析センター
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大藤 和幸
花王(株)素材・プロセス研究所
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石原 進介
京都電子工業
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岡本 昌幸
花王(株)構造解析センター
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高 雲華
岡山大学理学部
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田中 正次
花王(株)素材研究所
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後藤 伸也
花王(株)化学品研究所
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儘田 明
花王(株)素材研究所
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内藤 宏一
花王(株)化学品研究所
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上村 幸次
近畿大学理工学部化学科
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平林 忠
花王(株)素材・プロセス研究所
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寺田 慎一
(株)テクノス
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西萩 一夫
(株)テクノス
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谷口 一雄
大阪電気通信大学
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脇阪 達司
花王株式会社構造解析センター
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八川 亮子
花王(株)構造解析センター
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上村 幸次
京都電子工業(株)
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寺田 慎一
テクノス研
著作論文
- 表面固有抵抗測定と二次イオン質量分析法によるポリプロピレン中の帯電防止剤の状態解析
- 単色化X線源を用いるエネルギー分散型蛍光X線による微量リン,硫黄,塩素,臭素及びヨウ素の迅速定量
- 単色化X線源を用いたエネルギー分散型蛍光X線による重金属限度試験法の迅速分析
- 単色化X線源を用いたエネルギー分散型蛍光X線によるヒ素限度試験法の迅速分析
- 有機物マトリックス中の微量元素の直接定量を目的とした単色化X線源を用いるエネルギー分散型蛍光X線装置の開発
- 流動電位検出/イオン会合滴定法による陽イオン界面活性剤の迅速定量
- 流動電位検出/イオン会合滴定法による陰イオン界面活性剤の迅速定量
- 光度滴定法による水溶液でのイオン性界面活性剤の自動定量
- 微分光度滴定法による水溶液での陰イオン界面活性剤の定量
- 選択的化学修飾/X線光電子分光法による高分子表面官能基解析
- 単色化×線源を用いるエネルギー分散型蛍光×線装置の開発