ITO薄膜のX線光電子および逆光電子スペクトル
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概要
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- 日本表面科学会の論文
- 1996-08-10
著者
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小島 勇夫
物質工学工業技術研究所
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小島 勇夫
産業技術総合研究所
-
小島 勇夫
産総研 計測標準部門
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福本 夏生
物質工学工業技術研究所
-
折田 政寛
HOYA(株)R&Dセンター
-
坂井 裕之
HOYA(株)R&Dセンター
-
竹内 恵
HOYA(株)R&Dセンター
-
山口 洋一
HOYA(株)R&Dセンター
-
藤本 俊幸
物質工学工業技術研究所
-
藤本 俊幸
(独)産業技術総合研究所計測標準研究部門
-
藤本 俊幸
産総研 計測標準部門
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小島 勇夫
物質工学工技研
-
折田 政寛
Hoya(株)r&dセンター
-
竹内 恵
Hoya(株)r&dセンター
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坂井 裕之
Hoya(株)r&dセンター
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山口 洋一
Hoya(株)r&dセンター
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