小島 勇夫 | 物質工学工業技術研究所

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概要

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• 小島 勇夫

  物質工学工業技術研究所

• 福本 夏生

  物質工学工業技術研究所

• 小島 勇夫

  物質工学工技研

• 倉橋 正保

  工業技術院化学技術研究所

• 福本 夏生

  工業技術院化学技術研究所

• 小島 勇夫

  工業技術院化学技術研究所

• 小島 勇夫

  物質工学工業技術研究所 計測化学部

• 西嶋 昭生

  物質工学工業技術研究所

• 島田 広道

  工業技術院化学技術研究所

• 西嶋 昭生

  工業技術院化学技術研究所

• 島田 広道

  物質工学工業技術研究所

• 小島 勇夫

  産業技術総合研究所

• 小島 勇夫

  産総研 計測標準部門

• 折田 政寛

  HOYA(株)R&Dセンター

• 坂井 裕之

  HOYA(株)R&Dセンター

• 竹内 恵

  HOYA(株)R&Dセンター

• 山口 洋一

  HOYA(株)R&Dセンター

• 藤本 俊幸

  物質工学工業技術研究所

• 藤本 俊幸

  (独)産業技術総合研究所計測標準研究部門

• 藤本 俊幸

  産総研 計測標準部門

• 飯田 豊志

  日本重化学工業(株)筑波研究所

• 折田 政寛

  Hoya(株)r&dセンター

• 島田 広道

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• 竹内 恵

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• 坂井 裕之

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• 山口 洋一

  Hoya(株)r&dセンター

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著作論文

• 非線形最小二乗法を用いたモリブデン3dX線光電子スペクトルの波形分離による担持モリブデン触媒の状態別定量分析
• ITO薄膜のX線光電子および逆光電子スペクトル
• オージェ電子分光法によるアルミニウム陽極酸化皮膜の深さ方向分析(表面・界面・薄膜と分析化学)
• 非対称ガウス-ローレンツ複合関数によるX線光電子分光スペクトルの波形解析
• 科学と標準
• オージェ電子スペクトル分析
• 機器分析用試薬と標準物質 -X線分析, 電子顕微鏡, 表面分析-
• オ-ジェ電子分光におけるスペクトル合成法の応用--定量分析の標準化に向けて (化学標準)

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