これから電子顕微鏡を始める人へ(1)始めて見る電子顕微鏡
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概要
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This article is the first introduction to transmission electron microscopy (TEM) for beginners interested in the crystal structure analysis by means of electron diffraction and highresolution electron microscopy. Brief history of TEM, basic arrangements of TEM instruments, how to obtain selected area electron diffraction patterns, and how to prepare specimen by “crushing method”, are described.
- 日本結晶学会の論文
- 1997-04-28
著者
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