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Yokohama National Univ. Yokohama Jpn | 論文
- Controlled Expression of Lysis Genes Encoded in T4 Phage for the Gentle Disruption of Escherichia coli Cells
- Synchronized Disruption of Excherichia coli Cells by T4 Phage Infection
- 107 Sn-3.0Ag-0.5Cuはんだ接合部の相成長と力学的パラメータに関する研究(OS01.電子デバイス・電子材料と計算力学(2))
- 416 Sn-3.0Ag-0.5Cuはんだ接合部の弾塑性クリープ解析(OS1-2 最適設計と解析(2),オーガナイズドセッション:1 最適設計と解析)
- 錫ウィスカ発生における局所成長した金属間化合物の影響
- A-1-28 断熱的論理回路のしきい値電圧ばらつきに対する影響の評価(A-1.回路とシステム,一般セッション)
- 3958 サブミクロン金粒子低温焼結体の引張特性評価におけるモデル化の検討(S21-4 微細構造体の設計と解析,S21 ナノ・マイクロ構造体の強度物性と信頼性)
- サブミクロン金粒子低温焼結マイクロ接合構造の機械的疲労信頼性評価
- C-8-13 SFQ/CMOSハイブリッドメモリのシリアルデータ入力化の検討(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)
- C-8-6 10kA/cm^2Nbプロセス用単一磁束量子セルライブラリの構築(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)
- C-8-7 単一磁束量子回路を用いた2並列3段の再構成可能なデータパスの検討(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)
- C-8-16 アドバンストプロセス2.1を用いた2並列2段のSFQ-RDPの検討(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)
- C-8-15 10kA/cm^2Nbアドバンスドプロセスを用いたSFQ半精度浮動小数点乗算器の設計(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)
- C-8-5 10kA/cm^2Nbプロセスを用いたSFQ半精度浮動小数点加算器のコンポーネント回路の設計(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)
- A-1-2 断熱的論理回路のための電源供給回路のインダクタンスの検討と消費エネルギーの評価(A-1. 回路とシステム,一般セッション)
- A-1-1 断熱的パストランジスタ論理回路の最適構造の検討(A-1. 回路とシステム,一般セッション)
- 1112 電子デバイスBGAパッケージにおける信頼性の簡易評価に関する研究(J08-1 電子情報機器,電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(1) はんだ接合部信頼性,ジョイントセッション,21世紀地球環境革命の機械工学:人・マイクロナノ・エネルギー・環境)
- 1110 車載用電子デバイスはんだ接合部の熱疲労信頼性バラツキ評価とワーストケースの検討(J08-1 電子情報機器,電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(1) はんだ接合部信頼性,ジョイントセッション,21世紀地球環境革命の機械工学:人・マイクロナノ・エネルギー・環境)
- 1109 複合負荷を受けるはんだ接合部の疲労寿命の定量的評価に関する研究(J08-1 電子情報機器,電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(1) はんだ接合部信頼性,ジョイントセッション,21世紀地球環境革命の機械工学:人・マイクロナノ・エネルギー・環境)
- Charge Fluctuation in A_3C_(A=K and Rb) : Competition Between Electron-Electron and Electron-Phonon Interactions : Condensed Matter: Electronic Properties, etc.
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