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Tokyo Inst. Technology Tokyo Jpn | 論文
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- HfO_2薄膜成長過程の分光エリプソメトリによるその場観察と第一原理計算との比較(ゲート絶縁膜, 容量膜, 機能膜及びメモリ技術)
- 21世紀の単電子デバイス
- 電子材料-ナノシリコンとネオシリコン
- ULSI技術は電気化学の時代
- Single Electron Memory Devices Based on Plasma-Derived Silicon Nanocrystals
- Electron Transport in Nanocrystalline Si Based Single Electron Transistors
- Single-Electron Tunneling Devices Based on Silicon Quantum Dots Fabricated by Plasma Process
- ナノクリスタルシリコンによる単電子デバイス
- シリコン技術
- Phase Transitions of Antiferromagnetic Potts Models
- Isolation and Structure Elucidation of Vicenistatin M, and Importance of the Vicenisamine Aminosugar for Exerting Cytotoxicity of Vicenistatin
- Structure of NG-061, a Novel Potentiator of Nerve Growth Factor (NGF) Isolated from Penicillium minioluteum F-4627
- Evolution Process of the Angle-Deflective Oscillation of the Williams Domain
- Angle-Deflective Oscillation of Stripe Pattern in Nematic Liquid Crystals
- 強磁場印加による(110)pMOSFETサブバンド構造の直接的観測(IEDM特集(先端CMOSデバイス・プロセス技術))
- 24aWQ-2 Lateral dot fabrication by using a MOS electric gate on SiGe hetero structure
- 24aWQ-3 PdショットキーゲートによるSi/SiGe量子ドットの作製とその評価(24aWQ 量子ドット,領域4(半導体メゾスコピック系・局在))
- Atomic Force Microscope Current-Imaging Study for Current Density through Nanocrystalline Silicon Dots Embedded in SiO_2
- Single Electron Memory Devices Based on Silicon Nanocrystals Fabricated by Very High Frequency Plasma Deposition