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Tokyo Inst. Of Technol. Yokohama‐shi Jpn | 論文
- Si CMOS基板上ダミーメタル入り伝送線路の伝搬定数の固有値解析(学生研究会,学生研究会/一般)
- A-3-22 MOSFETのリーク電流ばらつき測定のための回路検討(A-3.VLSI設計技術,一般講演)
- A-3-12 歩留まり予測のためのビア数分布モデル(A-3.VLSI設計技術,一般講演)
- C-12-29 Si CMOS RF分布定数型増幅器の消費電力削減手法(C-12.集積回路C(アナログ),一般講演)
- C-12-34 Si RF CMOS分布定数型増幅器の設計(C-12.集積回路C(アナログ),エレクトロニクス2)
- 高Q値WLPインダクタおよびその5.8GHz帯LC型電圧制御発振器への応用(配線・実装技術と関連材料技術)
- Repairing Flaws in a Picture Based on a Geometric Representation of a Digital Image
- CS-1-3 Si-CMOS基板上ダミーメタル入り伝送線路特性の固有値解析と測定(CS-1.周期系・不規則系における電磁波散乱・導波問題:理論、数値解析と応用,シンポジウムセッション)
- Multiresolution Model Construction from Scattered Range Data by Hierarchical Cube-Based Segmentation
- 平面グラフの^^^~-彩色問題
- Parasitic Effects in Multi-Gate MOSFETs(Integrated Electronics)
- 優先領域に基づく中継制御法を用いたマルチホップ無線ネットワークの検討
- 優先領域に基づく中継制御法を用いたマルチホップ無線ネットワークの検討
- Efficient Methods for Determining DNA Probe Orders(Discrete Mathematics and Its Applications)
- Separation by Bonding Si Islands (SBSI) for Advanced CMOS LSI Applications(Si Devices and Processes, Fundamental and Application of Advanced Semiconductor Devices)
- C-2-32 オンウェーハ測定のためのTL(Thru-Line)校正によるディエンベディング手法(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
- 目標枝連結度3の最大被覆供給点配置問題(ネットワークプロセッサ,通信のための信号処理,符号理論,一般)
- 目標枝連結度3の最大被覆供給点配置問題(ネットワークプロセッサ,通信のための信号処理,符号理論,一般)
- Layout-Aware Compact Model of MOSFET Characteristics Variations Induced by STI Stress
- C-12-43 CMOS Power Amplifier in 65nm Technology
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