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Fujitsu laboratories LTD. | 論文
- Non-linear Distortion Caused by the Electrical Memory Effect and its Dependence on the Circuit Parameters of a GaAs MESFET Amplifier
- Non-linear Distortion Caused by the Electrical Memory Effect and its Dependence on the Circuit Parameters of a GaAs MESFET Amplifier
- Non-linear Distortion Caused by the Electrical Memory Effect and its Dependence on the Circuit Parameters of a GaAs MESFET Amplifier
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- 高精度電子ビーム描画装置によるX線マスク描画特性
- 1.はじめに(ドライエッチングの科学と技術の新局面)
- 8.おわりに(ドライエッチングの科学と技術の新局面)
- 最近の展望 マイクロプラズマスラスター
- 第58回気体エレクトロニクス会議(58th Gaseous Electronics Conference)
- An Atomic Scale Model of Multilayer Surface Reactions and the Feature Profile Evolution during Plasma Etching
- マイクロプラズマスラスターの研究開発 (特集 宇宙高温工学)
- 誘導結合型フルオロカｰボンプラズマを用いた高誘電率HfO_2薄膜のエッチング
- 半導体プラズマプロセスシミュレーションとTCAD
- プラズマCVDと溶媒処理を用いたフルオロカーボン系多孔質構造Low-K薄膜の作成
- Numerical Analysis of the Electromagnetic Fields in a Microwave Plasma Source Excited by Azimuthally Symmetric Surface Waves
- Si ドライエッチング技術
- 3.1 プラズマエッチング : 3. プラズマプロセス装置におけるプラズマ・表面相互作用(プラズマ・表面相互作用) : 多様なPSI現象
- GaAs MMIC for 2.4 GHz Wireless LAN Applications (Special Issue on Microwave Devices for Mobile Communications)
- Arsenic Pressure Dependence of Interdiffusion of AlGaAs/GaAs Interface in Quantum Well
- Suppressed short-channel effect of DG-MOSFET and its modeling