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Dep. Of Innovative And Engineered Materials Tokyo Inst. Of Technol. | 論文
- Direct Crystallization and Characterization of Bi_3TiTaO_9 Thin Films Prepared by Metalorganic Chemical Vapor Deposition
- MOCVD法により形成したPbTiO_3自己集合島の構造制御(新型不揮発性メモリー)
- サイトエンジニアリングコンセプトを用いたBi_4Ti_3O_12基薄膜特性の設計
- a,b軸配向エピタキシャルBi_4Ti_3O_12基薄膜の合成と特性評価
- 強誘電体ナノワイヤ及びナノアイランドの自発分極に関する研究 (平成21年度研究報告)
- ナノ強誘電体の基礎物性 : 現状と将来展望
- PbTiO_3- and Pb(Zr,Ti)O_3-Covered ZnO Nanorods
- MOCVD法によるPbTiO_3ナノ島作製とその強誘電性
- 24pYE-6 圧電応答顕微鏡でみる分域像(強誘電体分域の測定法の新展開と新しい分域像,シンポジウム,領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- MOCVD法によるナノサイズ強誘電体の作製とその物性
- 19aXC-4 HAADF STEM法を用いたSrTiO_3(100)/PbTiO_3強誘電体薄膜の原子構造組成解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- MOCVD法による強誘電体ナノ構造の形成とその物性(新型不揮発性メモリ)
- 29pXH-2 自己組織化による強誘電体PbTiO_3ナノ構造の形成と構造制御(領域10シンポジウム : ナノスケール構造を利用した物質創製-材料種の枠を超えて)(領域10)
- 圧電応答顕微鏡による強誘電体薄膜の観察と評価
- 21pXC-7 圧電応答顕微鏡による強誘電体薄膜の分極反転過程の観察と評価
- MOCVD法によるPb(Zr,Ti)O_3薄膜の低温成長と特性の改善(圧電デバイス・材料,強誘電体材料,有機エレクトロニクス,一般)
- MOCVD法によるPb(Zr,Ti)O_3極薄膜のエピタキシャル成長と電気的特性(物性,成膜,加工,プロセス : 強誘電体薄膜とデバイス応用)
- MOCVD法によるPb(Zr,Ti)0_3薄膜の低温成長と特性の改善(圧電デバイス・材料,強誘電体材料,有機エレクトロニクス,一般)
- エピタキシャルSrBi_2Ta_2O_9薄膜の界面構造
- X線逆格子イメージング法を用いた表界面ナノ構造評価
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