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株式会社アドバンテスト | 論文
- ネットワークアナライザを用いた超薄型溝型(逆メサ型)水晶振動子の周波数特性
- PHS用トランシーバMMIC
- 正電源動作1.9GHz帯利得可変形低歪み増幅器MMIC
- SSOP14 GaAs電力増幅器MMICの過渡熱抵抗評価
- 1.9GHz帯利得可変形低歪み増幅器MMIC
- C-4-3 半導体光変調器の位相変調特性評価法の検討(C-4. レーザ・量子エレクトロニクス, エレクトロニクス1)
- >4GHz ATEアプリケーションの為の1.83ps分解能CMOS任意タイミング発生器(VLSI一般(ISSCC2006特集))
- >4GHz ATEアプリケーションの為の1.83ps分解能CMOS任意タイミング発生器
- リファレンスクロックを必要としないプログラム可能なオンチップジッタ測定回路(VLSI一般(ISSCC2005特集))
- B-10-25 高密度実装用e-MPOコネクタと6連レセプタクルの開発(B-10. 光通信システムA(線路))
- C-2-15 高速セトリングおよび高アイソレーション性能を有する : 12GHz帯小型SPDT/SP4T-Switch MMICs(C-2.マイクロ波A(マイクロ波・ミリ波能動デバイス),一般セッション)
- ディジタルアシストアナログ回路向けの自動テスト生成フレームワーク(システム設計と高位・論理設計,物理設計及び一般)
- C-2-16 高速セトリング性能を有する12GHz帯小型高減衰ステップ・アッテネータMMIC(C-2.マイクロ波A(マイクロ波・ミリ波能動デバイス),一般セッション)
- C-2-30 30-50GHz帯広帯域増幅器MMIC
- C-2-16 広帯域周波数逓倍器MMIC
- 1.9GHz帯GaAsパワーアンプのCSP化
- 65nm時代以降のSoCデバイステスト技術 : Low-k/Cu配線技術対応の試験および解析手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- 65nm時代以降のSoCデバイステスト技術 : Low-k/Cu配線技術対応の試験および解析手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- 関数構造抽出のための特徴選択法
- 関数モデル同定のための特徴選択法