>4GHz ATEアプリケーションの為の1.83ps分解能CMOS任意タイミング発生器(VLSI一般(ISSCC2006特集))

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概要

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• テストレート4GHz以上の半導体試験装置(ATE)向けに開発した高速高精度のCMOSダイナミック任意タイミング発生器(TG)について紹介する.開発したTGの最大動作周波数は1.066GHzであり,マルチプレクス動作時には4.266GHzのテストレートに対応可能である.時間分解能は1.83psで, INLは±4ps以下である.さらに,従来用いられていたリニアリティ校正用のRAMを不要とした.ランダムジッタは0.7ps rmsを達成した.試作チップにはメタル7層の0.18μmのCMOSプロセスを使用した.

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2006-05-18

著者

• 須藤 訓

  株式会社アドバンテスト

• 山本 和弘

  株式会社アドバンテスト

• 岡安 俊幸

  株式会社アドバンテスト

• 須田 昌克

  株式会社アドバンテスト

• 寒竹 秀介

  株式会社アドバンテスト

• 渡邊 大輔

  株式会社アドバンテスト

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