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(株)半導体理工学研究センター(STARC) | 論文
- 不純物に起因するポテンシャル揺らぎの電子移動度への影響
- SCM測定のシミュレーション解析
- モジュールの電圧/周波数を動的に制御したH.264/MPEG-4 Audio/Visual Codec LSI(VLSI一般(ISSCC2005特集))
- ACP-1-3 シリコンシーベルト構想への半導体業界の期待(ACP-1. シリコンシーベルト福岡〜産学官連携による研究開発型クラスタの形成〜,パネルセッション,ソサイエティ企画)
- SCM測定のシミュレーション解析
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- 微細デバイスにおける電流ゆらぎシミュレーションのデバイス・サイズ依存性
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- 多段ゲーティング制御におけるクロックツリー合成手法
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- A-3-22 MOSFETのリーク電流ばらつき測定のための回路検討(A-3.VLSI設計技術,一般講演)
- A-3-3 高速信号伝送用の線路形状最適化
- STARCにおける物理設計技術開発の課題と活動
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- 予想配線長算出方法