渋谷 久恵 | 日立製作所

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概要

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関連著者

• 渋谷 久恵

  日立製作所

• 前田 俊二

  日立製作所 横浜研究所

• 渋谷 久恵

  日立製作所生産技術研究所

• 前田 俊二

  日立製作所生産技術研究所

• 渋谷 久恵

  日立製作所横浜研究所

• 和田 俊和

  和歌山大学

• 尾崎 晋作

  和歌山大学システム工学部

• 和田 俊和

  和歌山大学システム工学部

• 金子 俊一

  北海道大学

• 田中 孝之

  北海道大学大学院情報科学研究科

• 田中 孝之

  北海道大学

• 浦野 貴裕

  日立製作所生産技術研究所

• 吉田 実

  日立製作所生産技術研究所

• 浦野 貴裕

  北海道大学大学院 情報科学研究科 システム制御情報学研究室

• 和田 俊和

  和歌山大学大学院システム工学研究科

• 渋谷 久恵

  日立製作所 横浜研究所

• 高氏 秀則

  北海道大学

• 田中 孝之

  北大

• 田中 孝之

  北海道大学大学院 情報科学研究科

• 浦野 貴裕

  北海道大学

• 田中 孝之

  北大・情報

• 堀田 政二

  東京農工大学情報工学科

• 堀田 政二

  東京農工大学大学院工学研究院

• 堀田 政二

  東京農工大学共生技術研究院

• 高宮 隆弘

  和歌山大学システム工学部

• 近藤 和樹

  東京農工大学大学院情報工学専攻

• 菊地 啓

  東京農工大学大学院

• 近藤 和樹

  東京農工大学

• 和田 俊和

  日立製作所生産技術研究所

• 菊地 啓

  東京農工大学大学院情報工学専攻

• 堀田 政二

  東京農工大学大学院

• 堀田 政二

  東京農工大学

• 前田 俊二

  広島工業大学

• 松村 祐貴

  和歌山大学システム工学部

• 橋本 学

  中京大学

• 奥田 晴久

  三菱電機(株)

• 羽下 哲司

  三菱電機

• 庭川 誠

  明電舎

• 高木 裕治

  (株)日立製作所生産技術研究所

• 高木 裕治

  日立製作所生産技術研究所

• 金子 俊一

  北海道大学大学院情報科学研究科

• 田中 孝之

  電気通信大学知能機械工学科

• 高氏 秀則

  室蘭工業大学

• 諏訪 正樹

  オムロン(株)コアテクノロジーセンター

• 来海 暁

  大阪電気通信大学

• 諏訪 正樹

  オムロン

• 奥田 晴久

  三菱電機

• 近藤 正一

  北海道大学

• 渋谷 久恵

  日立製作所横倶研究所

• 前田 俊二

  日立製作所横倶研究所

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著作論文

• 欠陥種を考慮に入れた局所一貫性に基づく欠陥パタン照合法
• クラスタリングと部分空間法による異常検知手法
• ランダムな特徴選択とバギングを利用した欠陥分類
• 特徴選択とベイズ決定則を利用した欠陥分類
• 欠陥種を考慮に入れた局所一貫性に基づく欠陥パタン照合法とその応用
• 局所一貫性による点群の回転照合法と欠陥パターン照合への応用(パターン認識)
• ユーザの選好を反映した特徴変換(一般,顔・人物・ジェスチャ・行動)
• ユーザの選好を反映した特徴変換(一般,顔・人物・ジェスチャ・行動)
• 近傍整合性の累積評価に基づく回転照合法と欠陥点群分布照合への応用
• 点群分布形状の識別手法に関する検討
• Whiteningと線形予測を用いた人為的操作を伴うプラントの異常検出(一般,顔・人物・ジェスチャ・行動)
• Whiteningと線形予測を用いた人為的操作を伴うプラントの異常検出(一般,顔・人物・ジェスチャ・行動)
• 生産システム分野における多次元センシング技術の現状と動向 : MDS委員会2008年度調査報告
• Gaussian Processesを用いたプラントの異常及びその予兆の検出(MR/ARの実用化に向けたCV/PR技術の課題と展望)
• Gaussian Processesを用いたプラントの異常及びその予兆の検出(MR/ARの実用化に向けたCV/PR技術の課題と展望)
• 異常検出におけるSimilarity Based ModelingとGaussian Processesの関連に関して(一般セッション,医用画像処理分野における計測・認識・理解)
• 異常検出におけるSimilarity Based ModelingとGaussian Processesの関連に関して(一般セッション,医用画像処理分野における計測・認識・理解)
• 異常検出におけるSimilarity Based ModelingとGaussian Processesの関連に関して(一般セッション,医用画像処理分野における計測・認識・理解)
• Gaussian Processesに基づく異常予兆検出への多重解像度解析の導入(実世界センシングとその応用)
• Gaussian Processesに基づく異常予兆検出への多重解像度解析の導入(実世界センシングとその応用)
• Gaussian Processes に基づく異常予兆検出への多重解像度解析の導入
• Gaussian Processes に基づく異常予兆検出への多重解像度解析の導入
• 部分空間法に基づく残差ベクトル軌跡による異常検知手法の検討
• ロバストかつ高い収束性能を持つ二次元点群照合アルゴリズム
• Gaussian Process Regressionに基づく時系列データの異常モニタリング(パターン認識)
• 動的Active Setを用いたGaussian Process Regressionによるベクトル出力推定法(一般セッション,実時間処理実空間センシングと環境理解)
• 動的Active Setを用いたGaussian Process Regressionによるベクトル出力推定法(一般セッション,実時間処理実空間センシングと環境理解)
• 高速局所部分空間法による異常検知技術

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