渋谷 久恵 | 日立製作所横浜研究所
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概要
関連著者
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渋谷 久恵
日立製作所横浜研究所
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渋谷 久恵
日立製作所
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前田 俊二
日立製作所生産技術研究所
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渋谷 久恵
日立製作所生産技術研究所
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前田 俊二
日立製作所 横浜研究所
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和田 俊和
和歌山大学
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和田 俊和
和歌山大学システム工学部
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尾崎 晋作
和歌山大学システム工学部
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金子 俊一
北海道大学
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田中 孝之
北海道大学大学院情報科学研究科
著作論文
- 欠陥種を考慮に入れた局所一貫性に基づく欠陥パタン照合法
- クラスタリングと部分空間法による異常検知手法
- 欠陥種を考慮に入れた局所一貫性に基づく欠陥パタン照合法とその応用
- 局所一貫性による点群の回転照合法と欠陥パターン照合への応用(パターン認識)
- ユーザの選好を反映した特徴変換(一般,顔・人物・ジェスチャ・行動)
- ユーザの選好を反映した特徴変換(一般,顔・人物・ジェスチャ・行動)
- 近傍整合性の累積評価に基づく回転照合法と欠陥点群分布照合への応用
- Whiteningと線形予測を用いた人為的操作を伴うプラントの異常検出(一般,顔・人物・ジェスチャ・行動)
- Whiteningと線形予測を用いた人為的操作を伴うプラントの異常検出(一般,顔・人物・ジェスチャ・行動)
- 生産システム分野における多次元センシング技術の現状と動向 : MDS委員会2008年度調査報告