横山 裕之 | 九州大学大学院システム情報科学府

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• 佐道 泰造

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• 宮尾 正信

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• 黒澤 昌志

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著作論文

• 絶縁膜上におけるGe(Si)薄膜の溶融成長 : Si偏析効果による大粒径化(薄膜(Si,化合物,有機,フレキシブル)機能デバイス・材料・評価技術及び一般)
• 絶縁膜上におけるGe(Si)薄膜の溶融成長 : Si偏析効果による大粒径化(薄膜(Si,化合物,有機,フレキシブル)機能デバイス・材料・評価技術及び一般)
• 絶縁膜上におけるGe(Si)薄膜の溶融成長 : Si偏析効果による大粒径化

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