小見山 耕司 | 産業技術総合研究所計測標準研究部門電磁波計測科
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概要
関連著者
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小見山 耕司
産業技術総合研究所計測標準研究部門電磁波計測科
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小見山 耕司
産業技術総合研
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廣瀬 雅信
産業技術総合研究所計測標準研究部門電磁波計測科
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小見山 耕司
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廣瀬 雅信
産業技術総合研
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廣瀬 雅信
独立行政法人産業技術総合研究所
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黒川 悟
産業技術総合研究所計測標準研究部門電磁波計測科
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黒川 悟
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黒川 悟
(独)産業技術総合研究所計量標準総合センター
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黒川 悟
産業技術総合研
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小見山 耕司
(独)産業技術総合研究所計量標準総合センター
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堀部 雅弘
産業技術総合研究所
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堀部 雅弘
(独)産業技術総合研究所計量標準総合センター
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鳥畑 成典
NECトーキン株式会社
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鳥畑 成典
Necトーキン(株)光デバイス事業部
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鳥畑 成典
Necトーキン(株)ネットワークデバイス事業本部ユビキタスデバイス開発推進部
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小見山 耕司
(独)産業技術総合研究所
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石曽根 孝之
東洋大学工学部
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信太 正明
産業技術総合研 計量標準総合セ
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石曽根 孝之
東洋大学電気電子工学科
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一条 淳
NECトーキン(株)光デバイス事業部
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信太 正明
(独)産業技術総合研究所:計量標準総合センター
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鳥畑 成典
NECトーキン(株)
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黒川 悟
独立行政法人産業技術総合研究所
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岩崎 俊
電気通信大学
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吉田 武史
電気通信大学
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水澤 丕雄
金沢工業大学
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後藤 悦孝
協立電子工業株式会社
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後藤 悦孝
協立電子工業株式会社 Emc研究所
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後藤 悦孝
協立電子工業
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飯田 仁志
(独)産業技術総合研究所計量標準総合センター
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島田 洋蔵
(独)産業技術総合研究所計量標準総合センター
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森岡 健浩
電子技術総合研究研
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森岡 健浩
(独)産業技術総合研究所
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森岡 健浩
電子技術総合研究所
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林 孝広
金沢工業高等専門学校電気情報工学科
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水澤 丕雄
金沢工業大学教育支援機構
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森岡 健浩
金沢工業大学工学部電気系
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一條 淳
NECトーキン株式会社光デバイス事業部
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島田 洋蔵
産業技術総合研究所
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木下 基
産総研
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島岡 一博
産総研
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島岡 一博
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科 高周波標準研究室
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木下 基
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科 高周波標準研究室
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飯田 仁志
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科 高周波標準研究室
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ウィダルタ アントン
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科 高周波標準研究室
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森岡 健浩
電総研
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雨宮 好文
金沢工業大学工学部電子工学科
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森岡 健浩
独立行政法人産業技術総合研究所計測標準研究部門
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堀部 雅弘
独立行政法人産業技術総合研究所計測標準研究部門
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島田 洋蔵
(独) 産業技術総合研究所
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山口 尚
金沢工業大学基礎教育部
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堀部 雅弘
産業技術総合研究所計算標準総合センター
-
ウィダルタ アントン
産業技術総合研究所
-
島岡 一博
産業技術総合研究所
-
飯田 仁志
産業技術総合研究所
-
木下 基
産業技術総合研究所
著作論文
- 光伝送RFシステムの無電源延長ポートによるアンテナ測定 : 1パス2ポート校正によるS_とS_の測定(アダプティブアンテナ, MIMO及び無線信号処理技術, 一般)
- ログペリオディックアンテナの自由空間アンテナ係数測定法
- サイトSパラメータによる複素アンテナ係数測定環境の評価における不確かさの要因
- B-1-206 アンテナ測定における新校正とSOLT校正の同等性 : I.残留誤差(B-1.アンテナ・伝播C(アンテナシステム),一般講演)
- SOL法のみによるアンテナ測定の残留誤差
- B-1-185 SOL校正のみによる2アンテナ測定(B-1.アンテナ・伝播C(アンテナシステム),一般講演)
- B-1-169 光伝送RFネットワークアナライザによるアンテナ測定(B-1.アンテナ・伝播B(アンテナ一般),通信1)
- 光伝送RFワンパスネットワークアナライザの試作
- 光強度変調器を用いたアンテナ特性計測の試み
- 日本における国家計量標準とその供給体制 : 高周波電気標準の基本量とトレーサビリティ
- PC3.5 Sパラメータ標準の供給
- 磁気ヘルツダイポール近傍に置かれた金属シールド板の磁界シールド効果の距離特性(環境電磁・EMC)
- B-1-188 光電界センサのマイクロストリップアレイアンテナのパターン測定
- 光電界センサによるXバンドマイクロストリップアレイアンテナの平面走査近傍界測定法 : 光電解センサ・切り離し導波管の平面走査近傍界測定と遠方界測定の比較
- PC3.5コネクタの高周波インピーダンス標準の開発