信太 正明 | (独)産業技術総合研究所:計量標準総合センター
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概要
関連著者
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信太 正明
(独)産業技術総合研究所:計量標準総合センター
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信太 正明
産業技術総合研 計量標準総合セ
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堀部 雅弘
(独)産業技術総合研究所計量標準総合センター
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堀部 雅弘
(独)産業技術総合研究所、計量標準総合センター
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小見山 耕司
(独)産業技術総合研究所計量標準総合センター
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信太 正明
(独)産業技術総合研究所、計量標準総合センター
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堀部 雅弘
独立行政法人産業技術総合研究所計測標準研究部門
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堀部 雅弘
産業技術総合研究所計算標準総合センター
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小見山 耕司
(独)産業技術総合研究所
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堀部 雅弘
(独)産業技術総合研究所 計量標準総合センター
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信太 正明
(独)産業技術総合研究所 計量標準総合センター
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(独)産業技術総合研究所計量標準総合センター
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岸川 諒子
(独)産業技術総合研究所
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堀部 雅弘
産業技術総合研究所
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小見山 耕司
産業技術総合研究所計測標準研究部門電磁波計測科
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小見山 耕司
産業技術総合研
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堀部 雅弘
独立行政法人産業技術総合研究所計量標準総合センター
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信太 正明
独立行政法人産業技術総合研究所計量標準総合センター
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工藤 賢一
長野県工業技術総合センター
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岸川 諒子
産業技術総合研究所計算標準総合センター
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岸川 諒子
産業技術総合研究所
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小見山 耕司
独立行政法人産業技術総合研究所
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島田 洋蔵
(独)産業技術総合研究所計量標準総合センター
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島岡 一博
産総研
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ウィダルタ アントン
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科 高周波標準研究室
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廣瀬 雅信
産業総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科
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ANTON Widarta
産業総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科
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島岡 一博
産業総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科
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島田 洋蔵
産業総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科
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信太 正明
産業総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科
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小見山 耕司
産業総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科
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島田 洋蔵
(独) 産業技術総合研究所
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野田 一房
雄島試作研究所
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中嶋 大介
(一財)日本品質保証機構
著作論文
- RF領域におけるベクトルネットワークアナライザの残留不確かさ評価
- ベクトルネットワークアナライザ残留方向性評価方法の検証 : リップル法とベクトル法
- ベクトルネットワークアナライザ残留方向性評価方法の検証--リップル法とベクトル法
- C-2-123 ベクトルネットワークアナライザの不確かさ評価法に関する検討(C-2.マイクロ波C(マイクロ波・ミリ波応用装置),一般セッション)
- B-4-62 Type-N50コネクタSパラメータ標準の開発と供給(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- C-2-91 産総研における標準同軸伝送線路の校正能力 : 1.0mmコネクタへの適用(C-2.マイクロ波C(マイクロ波・ミリ波応用装置),一般セッション)
- C-2-129 高周波同軸コネクタ接合部の定量的特性評価(C-2. マイクロ波C(マイクロ波・ミリ波応用装置),一般セッション)
- PC3.5 Sパラメータ標準の供給
- B-4-39 PC3.5コネクタにおけるSパラメータ標準の開発と供給(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- B-4-71 PC3.5高周波同軸インピーダンス標準の開発(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- PC3.5コネクタの高周波インピーダンス標準の開発
- B-4-50 標準エアラインの位相標準としての検討(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- B-4-30 N型50Ω高周波同軸インピーダンス標準の開発と供給(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- 高周波インピーンス標準の供給とベクトルネットワークアナライザの残留誤差評価(PLC・標準・無線基地局関連, マイクロ波EMC/一般)
- 高周波インピーンス標準の供給とベクトルネットワークアナライザの残留誤差評価(PLC・標準・無線基地局関連, マイクロ波EMC/一般)
- B-4-72 PC-7高周波同軸インピーダンスの標準供給(B-4.環境電磁工学,通信1)
- 高周波同軸インピーダンス標準の開発(2) : PC-7エアライン標準器の開発と評価
- C-2-122 高周波同軸インピーダンス標準の開発(I) : 国家計量標準のSI単位へのトレーサビリティ(C-2. マイクロ波C(応用装置), エレクトロニクス1)
- CPEM2002報告 : 最近のRF精密計測動向
- C-2-33 ミリ波・サブミリ波法形導波管Sパラメータ標準の開発と課題(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
- C-2-124 リップル法によるVNA残留方向性の評価に関する検討(C-2.マイクロ波C(マイクロ波・ミリ波応用装置),一般セッション)
- C-2-51 ベクトル法による導波管WR-10ベクトルネットワークアナライザの残留方向性評価(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
- C-2-61 ミリ波帯における新しいフランジ形状の接続再現性評価(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス,一般セッション)
- 疑似電源回路網の適合性評価に向けた測定技術開発 : 信頼性の高い測定結果を得るための体系構築 (環境電磁工学)
- 擬似電源回路網の適合性評価に向けた測定技術開発 : 信頼性の高い測定結果を得るための体系構築 (放送技術)
- B-4-65 EMC試験機器に対する新しい校正方法の提案(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-63 EMC試験機器校正のための高周波同軸Sパラメータ標準の開発(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- 擬似電源回路網の適合性評価に向けた測定技術開発 : 信頼性の高い測定結果を得るための体系構築(放送,EMC,一般)
- B-4-23 擬似電源回路網の適合性判定用インピーダンス素子の試作(B-4.環境電磁工学,一般セッション)