堀部 雅弘 | 独立行政法人産業技術総合研究所計測標準研究部門
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概要
関連著者
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堀部 雅弘
独立行政法人産業技術総合研究所計測標準研究部門
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堀部 雅弘
(独)産業技術総合研究所計量標準総合センター
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(独)産業技術総合研究所計量標準総合センター
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堀部 雅弘
独立行政法人産業技術総合研究所計量標準総合センター
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長野県工業技術総合センター
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英国物理研究所
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(独)産業技術総合研究所計量標準総合センター
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(独)産業技術総合研究所計量標準総合センター
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木下 基
産総研
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島岡 一博
産総研
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島岡 一博
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科 高周波標準研究室
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木下 基
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科 高周波標準研究室
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飯田 仁志
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科 高周波標準研究室
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ウィダルタ アントン
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科 高周波標準研究室
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島田 洋蔵
(独) 産業技術総合研究所
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野田 一房
雄島試作研究所
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ウィダルタ アントン
産業技術総合研究所
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島岡 一博
産業技術総合研究所
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飯田 仁志
産業技術総合研究所
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木下 基
産業技術総合研究所
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中嶋 大介
(一財)日本品質保証機構
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堀部 雅弘
独立行政法人産業技術総合研究所計測標準研究部門電磁波計測科高周波標準研究室
著作論文
- RF領域におけるベクトルネットワークアナライザの残留不確かさ評価
- ベクトルネットワークアナライザ残留方向性評価方法の検証 : リップル法とベクトル法
- ベクトルネットワークアナライザ残留方向性評価方法の検証--リップル法とベクトル法
- C-2-123 ベクトルネットワークアナライザの不確かさ評価法に関する検討(C-2.マイクロ波C(マイクロ波・ミリ波応用装置),一般セッション)
- 日本における国家計量標準とその供給体制 : 高周波電気標準の基本量とトレーサビリティ
- B-4-62 Type-N50コネクタSパラメータ標準の開発と供給(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- C-2-91 産総研における標準同軸伝送線路の校正能力 : 1.0mmコネクタへの適用(C-2.マイクロ波C(マイクロ波・ミリ波応用装置),一般セッション)
- C-2-33 ミリ波・サブミリ波法形導波管Sパラメータ標準の開発と課題(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
- BS-1-4 ベクトルネットワークアナライザの位相測定確度検証法(BS-1.ミリ波システム実現のためのアンテナ・伝搬最新技術,シンポジウムセッション)
- C-2-124 リップル法によるVNA残留方向性の評価に関する検討(C-2.マイクロ波C(マイクロ波・ミリ波応用装置),一般セッション)
- BS-13-3 Sパラメータ測定に関するIEEEの規格動向(BS-13.次世代無線設備測定技術,シンポジウムセッション)
- C-2-51 ベクトル法による導波管WR-10ベクトルネットワークアナライザの残留方向性評価(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
- ベクトルネットワークアナライザの測定トレーサビリティ : 国際品質規格からの要求と実験データの信頼性
- C-2-61 ミリ波帯における新しいフランジ形状の接続再現性評価(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス,一般セッション)
- C-2-130 同軸エアライン評価のNMIJとNPL二国間比較(C-2. マイクロ波C(マイクロ波・ミリ波応用装置),一般セッション)
- 擬似電源回路網の適合性評価に向けた測定技術開発 : 信頼性の高い測定結果を得るための体系構築 (放送技術)
- B-4-65 EMC試験機器に対する新しい校正方法の提案(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-63 EMC試験機器校正のための高周波同軸Sパラメータ標準の開発(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- ミリ波・サブミリ波領域の高精度導波管ベクトルネットワークアナライザ測定技術開発(一般)
- 擬似電源回路網の適合性評価に向けた測定技術開発 : 信頼性の高い測定結果を得るための体系構築(放送,EMC,一般)
- B-4-23 擬似電源回路網の適合性判定用インピーダンス素子の試作(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-22 適合性判定を目的としたEMC試験機器の校正技術(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- ミリ波・テラヘルツ領域におけるベクトルネットワークアナライザの測定確度評価(マイクロ波,ミリ波)
- B-4-14 インピーダンス測定結果に附随する不確かさの評価方法(B-4.環境電磁工学,一般セッション)