堀部 雅弘 | (独)産業技術総合研究所計量標準総合センター

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  独立行政法人産業技術総合研究所計測標準研究部門

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• 小見山 耕司

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  独立行政法人産業技術総合研究所計量標準総合センター

• 信太 正明

  独立行政法人産業技術総合研究所計量標準総合センター

• 工藤 賢一

  長野県工業技術総合センター

• Nick Ridler

  英国物理研究所

• 岸川 諒子

  産業技術総合研究所計算標準総合センター

• 岸川 諒子

  産業技術総合研究所

• 小見山 耕司

  独立行政法人産業技術総合研究所

• 飯田 仁志

  (独)産業技術総合研究所計量標準総合センター

• 島田 洋蔵

  (独)産業技術総合研究所計量標準総合センター

• 島田 洋蔵

  産業技術総合研究所

• 木下 基

  産総研

• 島岡 一博

  産総研

• 島岡 一博

  産業技術総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科 高周波標準研究室

• 木下 基

  産業技術総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科 高周波標準研究室

• 飯田 仁志

  産業技術総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科 高周波標準研究室

• ウィダルタ アントン

  産業技術総合研究所 計測標準研究部門 電磁波計測科 高周波標準研究室

• 島田 洋蔵

  (独) 産業技術総合研究所

• 野田 一房

  雄島試作研究所

• ウィダルタ アントン

  産業技術総合研究所

• 島岡 一博

  産業技術総合研究所

• 飯田 仁志

  産業技術総合研究所

• 木下 基

  産業技術総合研究所

• 岸川 諒子

  (独)産業技術総合研究所 計量標準総合センター

• 中嶋 大介

  (一財)日本品質保証機構

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著作論文

• RF領域におけるベクトルネットワークアナライザの残留不確かさ評価
• ベクトルネットワークアナライザ残留方向性評価方法の検証 : リップル法とベクトル法
• ベクトルネットワークアナライザ残留方向性評価方法の検証--リップル法とベクトル法
• C-2-123 ベクトルネットワークアナライザの不確かさ評価法に関する検討(C-2.マイクロ波C(マイクロ波・ミリ波応用装置),一般セッション)
• 日本における国家計量標準とその供給体制 : 高周波電気標準の基本量とトレーサビリティ
• B-4-62 Type-N50コネクタSパラメータ標準の開発と供給(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
• C-2-91 産総研における標準同軸伝送線路の校正能力 : 1.0mmコネクタへの適用(C-2.マイクロ波C(マイクロ波・ミリ波応用装置),一般セッション)
• C-2-129 高周波同軸コネクタ接合部の定量的特性評価(C-2. マイクロ波C(マイクロ波・ミリ波応用装置),一般セッション)
• PC3.5 Sパラメータ標準の供給
• B-4-39 PC3.5コネクタにおけるSパラメータ標準の開発と供給(B-4.環境電磁工学,一般講演)
• B-4-71 PC3.5高周波同軸インピーダンス標準の開発(B-4.環境電磁工学,一般講演)
• PC3.5コネクタの高周波インピーダンス標準の開発
• B-4-50 標準エアラインの位相標準としての検討(B-4.環境電磁工学,一般講演)
• C-2-33 ミリ波・サブミリ波法形導波管Sパラメータ標準の開発と課題(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
• BS-1-4 ベクトルネットワークアナライザの位相測定確度検証法(BS-1.ミリ波システム実現のためのアンテナ・伝搬最新技術,シンポジウムセッション)
• C-2-124 リップル法によるVNA残留方向性の評価に関する検討(C-2.マイクロ波C(マイクロ波・ミリ波応用装置),一般セッション)
• BS-13-3 Sパラメータ測定に関するIEEEの規格動向(BS-13.次世代無線設備測定技術,シンポジウムセッション)
• C-2-51 ベクトル法による導波管WR-10ベクトルネットワークアナライザの残留方向性評価(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
• ベクトルネットワークアナライザの測定トレーサビリティ : 国際品質規格からの要求と実験データの信頼性
• C-2-61 ミリ波帯における新しいフランジ形状の接続再現性評価(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス,一般セッション)
• C-2-130 同軸エアライン評価のNMIJとNPL二国間比較(C-2. マイクロ波C(マイクロ波・ミリ波応用装置),一般セッション)
• 擬似電源回路網の適合性評価に向けた測定技術開発 : 信頼性の高い測定結果を得るための体系構築 (放送技術)
• B-4-65 EMC試験機器に対する新しい校正方法の提案(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
• B-4-63 EMC試験機器校正のための高周波同軸Sパラメータ標準の開発(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
• ミリ波・サブミリ波領域の高精度導波管ベクトルネットワークアナライザ測定技術開発(一般)
• 擬似電源回路網の適合性評価に向けた測定技術開発 : 信頼性の高い測定結果を得るための体系構築(放送,EMC,一般)
• B-4-23 擬似電源回路網の適合性判定用インピーダンス素子の試作(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
• B-4-22 適合性判定を目的としたEMC試験機器の校正技術(B-4.環境電磁工学,一般セッション)

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