杉山 英行 | (株)東芝 研究開発センター

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概要

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• 斉藤 好昭

  (株)東芝 研究開発センター

• 杉山 英行

  (株)東芝 研究開発センター

• 斉藤 好昭

  株式会社東芝研究開発センター

• 斉藤 好昭

  東芝 研開セ

• 斉藤 好昭

  東芝

• 斉藤 好昭

  (株)東芝研究開発センター

• 猪俣 浩一郎

  物質・材料研究機構

• 井口 智明

  (株)東芝 研究開発センター

• 猪俣 浩一郎

  東北大学大学院工学研究科知能デバイス材料学専攻

• 猪俣 浩一郎

  (株)東芝 研究開発センター:科学技術振興機構

• 斉藤 好昭

  東芝・基礎研

• 杉山 英行

  東芝

• 猪俣 浩一郎

  東北大学 大学院工学研究科 知能デバイス材料学専攻

• 棚本 哲史

  (株)東芝研究開発センター

• 丸亀 孝生

  (株)東芝研究開発センター

• 石川 瑞恵

  (株)東芝研究開発センター

• 猪俣 浩一郎

  東北大 大学院

• 猪俣 浩一郎

  (株)東芝研究開発センター

• 猪俣 浩一郎

  (株)東芝 基礎研究所

• 猪俣 浩一郎

  東北大学大学院工学研究科

• 猪俣 浩一郎

  東芝 総研

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著作論文

• CoFeB/MgO/CoFeBトンネル接合におけるスピン注入磁化反転に対する困難軸方向磁場の影響(スピンエレクトロニクス)
• CoFeB/MgO/CoFeBトンネル接合におけるスピン注入磁化反転に対する困難軸方向磁場の影響
• 自己差動メモリ素子の作製とその検出
• 反平行結合フリー層の熱擾乱耐性
• 不揮発再構成可能な回路へのスピンMOSFETの応用(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
• 不揮発再構成可能な回路へのスピンMOSFETの応用(高信頼技術,低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)

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