佐藤 倬暢 | フジクラ 電子デバイス研
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概要
関連著者
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佐藤 倬暢
フジクラ 電子デバイス研
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塚原 祐輔
凸版印刷総合研究所
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佐藤 倬暢
フジクラ
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塚原 祐輔
凸版印刷(株)総合研究所
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山中 一司
機械技術研究所
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長 秀雄
青山学院大
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長 秀雄
青山学院大学 理工学部 機械創造工学科
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中野 禅
産業技術総合研
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西野 秀郎
凸版印刷総合研究所
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中野 禅
機械技術研究所
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稲葉 正俊
フジクラ
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稲葉 正俊
株式会社フジクラ
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佐藤 治道
産業技術総合研究所
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上原 俊紀
東北大学大学院工学研究科
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中野 禅
産業技術総合研究所
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中曽 教尊
凸版印刷株式会社
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山中 一司
東北大学大学院工学研究科
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中曽 教尊
凸版印刷(株)
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山中 一司
東北大学
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山中 一司
機械技研
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竹本 幹男
青山学院大学 理工学部 機械創造工学科
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竹本 幹男
青学大
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長 秀雄
青学大
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中曽 教尊
凸版印刷
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佐藤 倬暢
(株)フジクラ
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長 秀雄
東北大学
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塚原 祐輔
凸版印刷(株)総研
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中野 禅
機械技研
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佐藤 治道
機械技術研究所
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佐藤 倬暢
株式会社フジクラ
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長 秀雄
東北大学大学院 工学研究科
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佐藤 治道
機械技研
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竹本 幹男
青山学院大
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上原 俊紀
東北大学(院)
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佐藤 倬暢
株式会社 フジクラ
著作論文
- レーザ干渉縞の位相速度走査により励起した弾性表面波を用いた多孔質シリコンの物性評価
- レーザー干渉縞の位相速度走査による薄膜試料の弾性表面波音速測定
- OD4 レーザー干渉縞の位相速度走査による多周波音速・減衰測定法(超音波計測)
- A-1 超音波スペクトラム顕微鏡によるマイクロマシン材料の断面計測(A.超音波非破壊評価)
- 弾性表面波の速度分散の逆問題解析による薄膜の弾性定数および膜厚の高精度同時推定
- レーザー干渉縞の位相速度走査法による弾性表面波を用いた薄膜の弾性率の推定