大柳 宏之 | 東京大学物性研究所
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概要
関連著者
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大柳 宏之
東京大学物性研究所
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細谷 資明
東大物性研
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箕村 茂
北大理
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大柳 宏之
東大物性研
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箕村 茂
東大物性研
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深町 共栄
埼玉工大
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大柳 宏之
電総研
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和泉 充
東京商船大
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山口 博隆
産総研
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和泉 充
東京海洋大学海洋工学部
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大貫 等
東京海洋大学海洋工学部
-
大貫 等
東京商船大
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岩田 深雪
東大物性研
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阿部 聖仁
筑波大 物理
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吉崎 亮造
筑波大 物工
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加藤 礼三
東大物性研
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中井 泉
筑波大化
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沢田 英明
筑波大 物工
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岩住 俊明
筑波大 物理
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斉藤 陽輔
筑波大 物理
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池田 博
筑波大 低温センター
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中井 泉
筑波大 化学
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山口 博隆
電総研
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丸茂 文幸
東京工業大学工業材料研究所
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多田 昌史
東京工業大学工業材料研究所
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細谷 資明
東京大学物性研究所
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和泉 充
東京商船大・物理
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児島 賢
東京商船大学交通電子機械工学専攻
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山口 博隆
電子技術総合研究所
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Delhaes P
CNRS-CRPP
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岩住 俊明
KEKPF
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滝田 宏樹
筑波大 物質工
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阿部 聖仁
東理大・理
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田中 一宜
電総研
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細谷 資明
物性研
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箕村 茂
電総研
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田中 一宣
電総研
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沢田 英明
筑波大物工
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箕村 茂
東大物性件
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丸茂 文幸
東京工業大学
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斉藤 陽輔
筑波大物理
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深野 共栄
埼玉工大
著作論文
- EXAFS測定によるNa_2O・4GeO_2ガラスの構造の研究
- 長鎖アルキルTFT系LB膜および結晶の研究 : 面内構造
- 28p-K-2 蛍光XAFS法による[EDT-TTF(SC_)_2]_2I_3LB膜のヨウ素分子配向状態
- 27p-PS-62 酸化物超伝導体のX線吸収スペクトル
- 2p-W-11 アモルファスIV-VI族半導体の構造
- 4p-K-8 NaCl構造InSbの電子構造(I)
- 29p-P-5 結晶および非晶質GeX(X=S, Se)のEXAFS
- 2a-M-8 低温における EXAFS 測定
- 31p GK-6 非晶質GeNi系のEXAFS
- 4a-AD-8 SSDを用いたEXAFS測定 II
- 2a-BF-5 SSDを用いたEXAFSの測定
- 11a-Z-7 NaCl構造InSbのXPS
- アモルファス半導体の構造 (アモルファス物質)
- V EXAFSと非晶質構造
- EXAFS--新しい構造決定手段 (話題のスペクトロスコピ-)