細谷 資明 | 東京大学物性研究所
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概要
関連著者
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細谷 資明
東京大学物性研究所
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細谷 資明
東大物性研
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深町 共栄
東京大学物性研究所
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丸茂 文幸
東京工業大学工業材料研究所
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東京大学物性研究所
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川村 隆明
山梨大学教育学部物理学教室
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井村 徹
名古屋大学工学部
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東京工業大学
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帝京平成大学情報学部
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理化学研究所
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坂部 知平
名古屋大学 理
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安藤 正海
東京大学物性研究所
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井村 徹
名古屋大学・工学部
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坂部 知平
名古屋大学理学部
著作論文
- EXAFS測定によるNa_2O・4GeO_2ガラスの構造の研究
- 異常散乱の応用
- 異常散乱因子の測定法
- フォトン・ファクトリーにおけるX線測定系 : ―総説―
- 中性子トポグラフィによる磁区の観察
- X線トポグラフィの特集にあたって
- ケンブリッジ会議の粉末試料のセッション
- イオン結晶, 金属酸化物・窒化物・炭化物内の電子分布
- ソ連・東欧めぐり
- X線トポグラフィ文献案内
- EXAFSの理論新しい局所構造決定法の特徴と問題点
- 放射光と結晶学
- フォトン・ファクトリーにおけるX線測定系 : ―エネルギー分散型検出器―
- 異常散乱国際会議報告(談話室)
- X線の非弾性散乱,異常散乱 (フォトン・ファクトリ-計画)