吉田 昌弘 | 長岡技術科学大学
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概要
関連著者
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吉田 昌弘
長岡技術科学大学
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秋山 伸幸
長岡技術科学大学
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桑原 和寿
(株)第一測範製作所
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リャンパーニット エカリット
長岡技術科学大学大学院
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青木 優弥
長岡技術科学大学大学院
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八掛 保夫
東京エレクトロン(株)
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渡辺 友朗
長岡技術科学大学大学院
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吉村 剛治
日立金属(株)
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村山 健
(株)ns・コンピュータサービス
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染次 孝博
日立金属(株)
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杉原 修二
長岡技術科学大学大学院
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杉原 修二
長岡技術科学大学
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小林 隆之
長岡技術科学大学
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小林 透
ユニオンツール(株)
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サムソール ビンチサクリ
長岡技術科学大学大学院
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小林 典之
長岡技術科学大学大学院
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鈴木 寿朗
長岡技術科学大学大学院
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川田 賢司
長岡技術科学大学大学院
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LIANGPANICH Ekrit
長岡技術科学大学
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川田 賢司
長岡技術科学大学
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村山 健
長岡技術科学大学大学院
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石田 秀吾
長岡技術科学大学大学院
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明田川 憲
日本電気マイコンテクノロジー(株)
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サムソール ビンチサクリ
長岡技術科学大学
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小林 典之
長岡技術科学大学
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鈴木 寿朗
長岡技術科学大学
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栗田 政則
長岡技術科学大学機械系
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福島 忠男
(株)第一測範製作所
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谷内 俊明
日立電子エンジニアリング(株)
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北野 哲彦
長岡技術科学大学大学院
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藤本 頴助
(株)第一測範製作所
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幸平 博喜
(株)第一測範製作所
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佐々木 勝
長岡技術科学大学大学院
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辻山 純基
長岡技術科学大学
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佐藤 直之
長岡技術科学大学
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サムソール ビン
長岡技術科学大学
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宮原 健
長岡技術科学大学
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高橋 博之
長岡技術科学大学大学院
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松添 雄二
(株)富士電機総合研究所
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圓山 泰広
(株)安川電機
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香川 亨
長岡技術科学大学機械システム工学課程
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秋山 信幸
長岡技術科学大学
-
栗田 政則
長岡技術科学大学
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竹石 哲也
(株)第一測範製作所
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山川 一夫
長岡技術科学大学
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福田 喜輝
長岡技術科学大学
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高橋 博之
長岡技術科学大学大学院:(現)(株)アルファシステム
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リャンパーニット エカリット
長岡技術学大学大学院
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藤本 穎助
(株)第一測範製作所
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小林 透
長岡技術科学大学大学院
-
明田川 憲
長岡技術科学大学
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舛屋 一弘
長岡技術科学大学大学院
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平田 尚久
長岡技術科学大学
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谷内 俊明
日立電子エンジニアリング
-
香川 亨
長岡技術科学大学大学院
著作論文
- 微小径深穴用光学式内径測定装置の開発
- 偏光分離2画像を用いたエッチング部品断面形状計測技術
- 内面溝形状測定装置の光学系に起因する測定誤差の実験的解析
- LED放射束制御によるピストンリング自動計数装置の開発
- ピンホール像投影方式2次元形状自動測定装置の開発
- LED・フレネルレンズを用いたベーン上エッジ部カケ検出の自動化
- 光学式内径測定装置を用いた四角形穴測定精度の実験的解析
- ベーンポンプ用ベーンのエッジ部カケ検出の自動化
- ベーンポンプ用ベーンの平面部・曲面部上欠陥検出の自動化
- 小径穴内面形状計測装置の開発
- SiO_2薄膜付きウエハ上微粒子からの散乱光検出
- 光学式内径測定装置を用いた四角形穴測定精度の理論的解析
- 円形穴を対象とした光学式内径測定法の解析
- 小径穴内面形状計測技術の開発
- 機械部品エッジ部および表面部に発生するカケ・打痕自動検出法
- 機械部品エッジ部に発生するカケ・打痕自動検出法
- カメラ用焦点合せセンサを用いた顕微鏡用自動焦点合せ検出系の開発
- Si0_2薄膜付きウエハ上微粒子からの散乱光シミュレーション
- ウエハ上微粒子およびウエハ内結晶空洞(COP)からの散乱光の実験的解析
- 鋳物表面粗さ光学的測定法の研究
- 走査型アルミナセラミックスクラック検出装置の開発
- レーザ拡散法によるアルミナセラミックスクラックの自動検出
- SiO_2薄膜付きウエハ上微粒子からの散乱光検出
- 白色透過光を用いたランプチューブ欠陥自動検出装置の開発
- レーザを用いたランプチューブクラック自動検出装置の開発
- 透光性セラミックチューブ上のクラック自動検出法の開発
- パターン投影方式小径穴測定装置の性能向上(第2報) : 平行平板試料の場合の実験結果と理論値との比較
- パターン投影方式小径穴測定装置の性能向上(第1報) : 平行平板試料の場合の理論解析
- ウエハ上微粒子およびウエハ内結晶空洞(COP)からの散乱光の理論的解析
- セラミックス製品端面からのき裂自動検出法の開発(第1報) : き裂近傍の拡散光検出と検出法の開発
- 鋳物表面粗さ光学式測定における測定精度向上法
- 3次元形状を有する鋳物表面粗さ光学式測定法の開発
- チップ状ファインセラミックス部品 き裂状欠陥自動検出法の開発
- 3次元鋳物製品表面粗さの光学式インライン自動計測法の開発
- レーザ拡散法による濃色PZT基盤微細クラックインプロセス自動検出技術
- FD-TD法によるSiウェハ内欠陥(COP)およびウェハ上微粒子からの散乱光の解析
- FD-TD法による薄膜付きシリコンウエハ上微粒子からの散乱光解析
- 小径試料内・外径光学式測定装置における測定精度の解析
- 3次元鋳物部品表面粗さの光学式インライン自動計測法の開発
- 半導体レーザ斜方照明光学系における照度分布測定装置の開発
- 気化媒体検出法による鋳物・セラミックス表面上微細クラック自動検出法の研究
- レーザ拡散法による黒色ファインセラミックスクラックの自動検出
- 走査型FID検出による黒色焼結体クラック検出法の研究
- FIDを使った黒色焼結体クラック検出法の研究
- Automatic Detection Technology for Flaws on Edges of Vanes Using LEDs and Fresnel Lenses