井上 真雄 | 大阪大学工学部電気工学科

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概要

• 同名の論文著者
• 大阪大学工学部電気工学科の論文著者

関連著者

• 井上 真雄

  (株)ルネサステクノロジ

• 白藤 純嗣

  大阪大学工学部

• 井上 真雄

  大阪大学工学部電気工学科

• 白藤 純嗣

  大阪大学工学部電気工学科

著作論文

• FN注入によるMOSダイオードの劣化とa.c.コンダクタンス測定
• SiO_2薄膜の絶縁劣化とコンダクタンスの関連

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