井田 実 | NTT情報流通基板研究所
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概要
関連著者
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榎木 孝知
NTTフォトニクス研究所
-
深井 佳乃
NTTフォトニクス研究所
-
山幡 章司
NTTフォトニクス研究所
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井田 実
NTT情報流通基板研究所
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栗島 賢二
Nttフォトニクス研究所
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栗島 賢二
NTTフォトニクス研
-
栗島 賢二
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
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井田 実
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
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榎木 孝知
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
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栗島 賢二
NTTフォトニクス研究所,日本電信電話株式会社
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山幡 章司
日本電信電話株式会社、nttフォトニクス研究所
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井田 実
日本電信電話株式会社、nttフォトニクス研究所
-
井田 実
日本電信電話
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栗島 賢二
日本電信電話
著作論文
- 動作電流密度2mA/μm^2以上で高信頼性を有するレッジ付きInP HBT(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)
- 動作電流密度2mA/μm^2以上で高信頼性を有するレッジ付きInP HBT(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)
- 動作電流密度2mA/μm^2以上で高信頼性を有するレッジ付きInP HBT(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)