渡辺 浩志 | (株)東芝LSI基盤技術ラボラトリー

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概要

• 同名の論文著者
• (株)東芝LSI基盤技術ラボラトリーの論文著者

関連著者

• 渡辺 浩志

  株式会社東芝LSI基板技術ラボラトリー

• 高木 信一

  東京大学大学院 工学系研究科

• 高木 信一

  東京大学大学院工学系研究科

• 高木 信一

  (株)東芝 LSI基盤技術ラボラトリー

• 高木 信一

  半導体miraiプロジェクト 超先端電子技術開発機構(aset)

• 高木 信一

  東芝LSI基盤技術ラボラトリー

• 渡辺 浩志

  (株)東芝LSI基盤技術ラボラトリー

著作論文

• ゲート不純物の不完全イオン化とバンドギャップナローウィングがゲートからのトンネル電流に与える影響
• ゲート不純物の不完全イオン化とバンドギャップナローウィングがゲートからのトンネル電流に与える影響

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